Highend-Konfokalmikroskop von NanoFocus

4 Megapixel Kameramodul, Messdatenerfassung in 16 Bit und Glasmaßstäbe in allen Verfahrachsen - das optische 3D-Konfokalmikroskop ›µsurf expert‹ von NanoFocus setzt einen neuen Standard in der berührungslosen Oberflächenmesstechnik.

Die neue Generation des ›µsurf expert‹ von NanoFocus garantiert Messungen mit großem Dynamikumfang und höchster Auflösungen. Die Erfassung von Oberflächen mit hohen Reflexionskontrasten oder steilen Flanken stellen mit dem µsurf expert keine Schwierigkeit dar. Während des Messvorgangs verarbeitet ein hochdynamischer Sensor das von der Probenoberfläche reflektierte Licht. Durch die Erfassung von Höheninformationen in 65536 Graustufen werden auch stark absorbierende Oberflächen und variierende Lichtintensitätsbereiche zuverlässig erfasst. Ebenso lassen sich Oberflächenstrukturen mit steilen Flanken und komplexen Geometrien artefaktfrei und hochgenau messen.

Maximale Performance

Die Geschwindigkeit der Messdatenaufnahme wurde drastisch erhöht durch Einsatz von Dual-Gig-E Standards in Kombination mit der patentierten und leistungsstarken Multi-Pinhole-Disc von NanoFocus. Bei Verwendung der Megapixelkamera wird selbst im Full-Frame-Modus mit höchster Auflösung eine Aufnahmegeschwindigkeit von mehr als 90 Frames per second (FPS) erzielt.

4 Megapixel Kameramodul garantiert hohe Auflösung und Messpunktdichte

Bei Ausstattung mit einer 4 Megapixel-Kamera werden Oberflächen mit höchster Messpunktdichte aufgenommen. Die höhere Auflösung bietet Vorteile bei kleinen als auch bei großen Vergrößerungen, insbesondere bei der Vermessung feinster Oberflächenstrukturen. Aufgrund der patentierten NanoFocus Konfokaltechnologie bleibt auch bei der hohen Messpunktedichte die Messgeschwindigkeit konstant hoch.

Optimiertes Stitching (Panoramabild) durch Glasmaßstäbe in allen Achsen

Die Verfahrachsen (x,y,z) des µsurf expert sind mit hochwertigen Glasmaßstäben ausgestattet und garantieren eine hohe Positioniergenauigkeit. Dieser Vorteil kommt insbesondere bei der Messung größerer Flächen und beim Stitching (automatische Bildzusammensetzung) zum Tragen. Dank der Bildzusammensetzung mit absoluten Positionsdaten werden Einzelmessbildern vollautomatisch und ohne jegliche Artefakte kombiniert – unabhängig von Kontrast und Oberflächenstruktur.

Vollautomatisierbare Mess- und Auswertevorgänge

Die Möglichkeit für benutzerunabhängige und vollautomatische Messungen zeichnet µsurf expert für den unkomplizierten Einsatz in der Qualitätssicherung aus. Bei Einzelmessungen oder fertigungsbegleitenden Serienmessung lassen sich mit der industrietauglichen, datenbankbasierten Automatisierungssoftware µsoft automation Messstrategien und Auswertungen kundenspezifisch konfigurieren. Die Messdaten werden direkt in vordefinierte Ergebnisprotokolle überführt oder über Datenschnittstellen exportiert. Damit stehen sie für Soll-/Ist-Vergleiche zur Verfügung oder können für weitere Auswertungen an verschiedene Statistiksoftware übergeben werden.

Normkonforme, wiederholgenaue und zerstörungsfreie Erfassung aller Oberflächen

Im Prüf- und Entwicklungslabor ermöglicht das µsurf expert die präzise Vermessung einer großen Bandbreite von unterschiedlichen Materialien unabhängig von der Oberflächenbeschaffenheit. Mit dem flächenhaften Messprinzip werden Rauheit, Geometrie, Ebenheit, Verschleiß, Traganteile und weitere Parameter konform mit internationalen Normen, unter anderem der ISO 25178 und ISO 4287, bestimmt. Die Ergebnisse stehen anschließend zur Weiterverarbeitung oder statistischen Auswertung zur Verfügung.

Das optisch-konfokale Messverfahren der NanoFocus AG zeichnet sich durch die profiltreue Wiedergabe feinster Rauheitsstrukturen sowie hohe Reproduzierbarkeit der Messwerte aus. Dies ist die Voraussetzung für den Einsatz als Messmittel im Labor und in der qualitätskritischen Produktionskontrolle.

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