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Polarisationsmikroskop mit Anspruch

Voll kodiert und halbautomatisiert

Leica Microsystems hat das Polarisationsmikroskop Leica DM4 P auf den Markt gebracht. Es eignet sich für die Untersuchung kristalliner Strukturen. Das voll kodierte, halbautomatisierte Mikroskop kann wahlweise für Durchlicht oder Auflicht oder auch für beide Verfahren konfiguriert werden.


Durch die kodierten Komponenten des Leica DM4 P können Bilddaten gespeichert und wieder aufgerufen werden. Beim Objektivwechsel werden die Helligkeits- und Apertureinstellungen vom Beleuchtungs- und Kontrastmanager automatisch übernommen. Der kodierte sechsfache Objektivrevolver sorgt für die automatische Kalibrierung der erfassten Bilder. Zudem ermöglicht die Funktion Store and Recall der Software Leica Application Suite reproduzierbare Bildeinstellungen.

Kay Scheffler, Produktmanager bei Leica Microsystems, sagt: „Das Leica DM4 P kann für Durch- und Auflichtanwendungen ausgerüstet werden, was Nutzer extrem flexibel macht. Auflicht ist interessant für all diejenigen, die Reflexionsmessungen an Erzen oder Kohle durchführen. Zur Messung der Doppelbrechung, wie zum Beispiel bei der Inspektion geologischer Dünnschnitte, Polymerfolien oder Arzneimittel, ist Durchlicht erforderlich. Und für spezielle Anwendungen in der Forschung werden beide Verfahren benötigt.“

Mit der LED-Beleuchtung können Anwender eine homogene Probenausleuchtung und eine konstante Farbtemperatur sicherstellen und die Lichtintensität schnell regeln. Zudem sind LEDs energiesparend und müssen dank ihrer langen Lebensdauer nicht ausgewechselt werden. Durch ihre geringe Wärmeemission läuft die LED-Beleuchtung ohne Lüfter und deshalb geräuschlos.

Damit Nutzer in der Polarisationsmikroskopie optimale Bildergebnisse erzielen können, müssen die optischen Komponenten sowie die Objektive spannungsfrei sein. Hiermit wird gewährleistet, dass die Doppelbrechung proben- und nicht optikbedingt ist. Zur konoskopischen Untersuchung von Interferenzbildern wird eine Bertrandlinse benötigt, die optional mit dem Mikroskop geliefert werden kann.

 

Mehr Informationen Leica Geosystems AG:

Kontakt  Herstellerinfo 
Leica Geosystems AG
Moenchmattweg 5
CH-5035 Unterentfelden
Telefon +41-62-7376767
Fax +41-62-7376868
E-Mail: info.metrology@leica-geosystems.com
www.leica-geosystems.com/metrology
 

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