Zur Materialwissenschaft und Qualitätsanalyse
Automatisierte Mikroskope von Leica
Mit dem Leica DM4 M und dem Leica DM6 M hat Leica Microsystems aufrechte Materialmikroskope im Portfolio, die für die Abbildung, Messung und Analyse von Materialproben konzipiert sind.
Während das Leica DM4 M für die manuelle Routineinspektion geeignet ist, erbringt das Leica DM6 M vollautomatisierte Materialanalysen. Automatisierte Funktionen wie der Illumination Manager und Contrast Manager entlasten die Anwender, indem sie komplexe Einstellungen auf einen einfachen Tastendruck reduzieren. Beide Geräte sind mit einer LED-Beleuchtung ausgestattet. Für Anwendungen wie zum Beispiel Stahlreinheitsanalysen, Partikelanalysen, Phasen- oder Korngrößenanalysen stehen die Expert-Module der Leica Application Software (LAS) zur Verfügung.
Mit der Softwarefunktion ›Store and Recall‹ können Nutzer vorherige Mikroskopeinstellungen jedes Probentyps leicht abrufen. Damit lassen sich optimale Bildparameter jederzeit reproduzieren. Beide Systeme zeichnen sich durch ihre große Bedienerfreundlichkeit aus. Ein Beispiel: die intelligente Automatisierung reduziert wiederkehrende Aufgaben auf einen einzigen Knopfdruck. Außerdem profitieren Anwender des Leica DM4 M und Leica DM6 M von einer schnelleren Einarbeitungszeit, einem verbesserten Workflow sowie brillanten Bildergebnissen. Zum Beispiel bietet das 1,25-fache Panorama-Objektiv eine fantastische Übersicht über die Probe.
Illumination Manager und Contrast Manager erkennen das ausgewählte Kontrastverfahren sowie das verwendete Objektiv automatisch und passen die Werte für die Apertur- und Feldblenden sowie die Bildhelligkeit optimal an. Die LED-Beleuchtung sorgt für homogene Probenausleuchtung und konstante Farbtemperatur bei allen Helligkeitsstufen und Mikroskopeinstellungen. So bleiben auch die Kameraeinstellung konstant und der Weißabgleich muss nicht nachgeregelt werden. LEDs sind energieeffizient, strahlen wenig Wärme ab und haben eine Lebensdauer bis 25.000 Stunden.
Die Mikroskopsoftware Leica Application Suite (LAS) verwandelt das Mikroskop und seine Zubehörkomponenten, wie zum Beispiel eine Kamera, in ein Bildgebungs- und Analysesystem.
Mehr Informationen Leica Geosystems AG:
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Leica Geosystems AG |
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Moenchmattweg 5 |
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CH-5035 Unterentfelden |
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Telefon +41-62-7376767 |
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Fax +41-62-7376868 |
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E-Mail: info.metrology@leica-geosystems.com |
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www.leica-geosystems.com/metrology |
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