Welt der Fertigung
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Ausfallanalyse ohne Zerstörung

Industrielle Computertomographie mit dem exaCT S

Bei einem Lithium-Ionen-Akkumulator galt es, die Ursache für den elektrischen Ausfall zu finden. Daraufhin wurde der innere Aufbau des Bauteils mithilfe eines Computertomographen von Wenzel zerstörungsfrei analysiert.


Der elektrische Ausfall eines Lithium-Ionen-Akkumulators war Ausgangspunkt für diese Untersuchung. Die äußere Hülle des Akkumulators zeigte keinerlei Hinweise auf die Ausfallursache - ein Blick in das Innere war demnach nötig. Neben zerstörenden Prüfverfahren wie beispielsweise die Metallographie wurden ebenfalls zerstörungsfreie Prüfverfahren wie die Röntgen-Radiographie und die Röntgen-Computertomographie in Betracht gezogen. Die Radiographie liefert nur Überlagerungsbilder, bei denen eine Interpretation oft aufgrund der übereinanderliegenden Strukturen des Bauteils im Röntgenbild erschwert ist, so dass letztlich die Wahl auf die Computertomographie (CT) fiel. Dieses Verfahren liefert dreidimensionale Bilder, die es ermöglichen, beliebige Bereiche des Bauteilinneren zerstörungsfrei zu prüfen.

Rekonstruktion eines dreidimensionalen Datensatzes

Um die Defektursache zu analysieren, wurde der innere Aufbau des Plus- und Minus-Pols mithilfe der Röntgen-Computertomographie auf Fehler untersucht. Dazu wurde der 130kV-Computertomograph Desktop-CT exaCT S von Wenzel Volumetrik eingesetzt, dessen maximale Voxelauflösung bei 5 µm liegt. Um den gewünschten dreidimensionalen Datensatz zu erhalten, sind verschiedene zweidimensionale Projektionsbilder nötig.

Hierzu muss sich das Prüfobjekt im Verlauf der Messung um 360 Grad in einem Röntgenkegelstrahl drehen. Während der Drehung nimmt der Detektor die Projektionsbilder auf, die sich aus der materialabhängigen Schwächung des Röntgenstrahls zusammensetzen. Aus ihnen wird nun mittels leistungsstarker Rechner ein dreidimensionaler Datensatz von Volumenelementen (Voxeln) rekonstruiert.

Nach der Messung und der Rekonstruktion des Volumens ist es möglich, jede beliebige Schicht des zu prüfenden Bauteils aus unterschiedlichen Perspektiven auf Fehler hin zu überprüfen sowie das Bauteilinnere detailliert darzustellen. Die Volumendaten werden mit der Analysesoftware visualisiert und analysiert. Durch das rekonstruierte Volumen des Akkumulators können beliebige zweidimensionale Schnittebenen gelegt und mit einer Schrittweite im Mikrometerbereich verfahren werden, sodass eine detaillierte Analyse des Bauteilinneren möglich ist.

Die horizontale CT-Schnittebene durch den Akkumulator zeigt die aufgewickelten Elektroden- und Separatorlagen des Akkumulators, in die das sogenannte Tabbändchen eingebracht ist. Das Tabbändchen verbindet die positive Elektrode mit dem Deckel der Zelle. Betrachtet man das Tabbändchen des Plus-Pols aus einer vertikalen Perspektive im CT-Volumenscan, finden sich in der unteren Bildhälfte die Wicklungen wieder, in die das Tabbändchen mündet, und darüber der Anschluss des Tabbändchens an den Plus-Pol.

Oberhalb der Wicklungen in der ersten Wendung des Tabbändchens ist deutlich eine Unterbrechung zu erkennen (siehe Pfeil), die den elektrischen Ausfall verursacht hat. Durch Verfahren der Schnittebenen vor und hinter der schadhaften Stelle ist zu erkennen, dass sich diese an derselben Position durchgehend über alle weiteren vertikalen Schnittebenen erstreckt und demzufolge das Tabbändchen komplett gerissen ist.

Die Computertomographie ermöglicht einen Blick ins Innere des Akkumulators

Die Analysesoftware ermöglicht mit Clippingboxen das Wegschneiden von Volumenteilen des Akkumulators. So konnte das Tabbändchen durch gezieltes Ausblenden von Bereichen freigelegt werden, sodass der durchgehende Riss im CT-Volumenscan sehr gut zu erkennen ist.

Der direkte Vergleich der vertikalen CT-Schnittebenen des elektrisch ausgefallenen Akkumulators (oben) mit einem elektrisch funktionsfähigen baugleichen Akkumulator (unten) zeigt erwartungsgemäß ein intaktes Tabbändchen beim funktionstüchtigen Akkumulator. Ohne das Vergleichsobjekt wäre die Interpretation der Fehlstelle kritisch zu hinterfragen, da es in CT-Bildern oftmals zu Artefakten kommt. Artefakte sind Abweichungen von der Wirklichkeit im CT-Bild, die künstlich entstanden sind. So wäre an dieser Stelle ebenfalls in Betracht zu ziehen, dass es sich bei dem Riss um keinen wirklichen Spalt im Tabbändchen handelt, sondern dieser durch einen Schatten des stärker absorbierenden Mantels des Akkumulators verursacht wurde.

Aufgrund der durchgehenden Unterbrechung des Tabbändchens besteht kein elektrischer Kontakt zwischen der positiven Elektrode und dem Zelldeckel, sodass der Akkumulator elektrisch ausfällt. Um den Fehler künftig zu vermeiden, muss bereits bei der Zellherstellung darauf geachtet werden, dass es zu keiner übermäßigen Beanspruchung und damit Beschädigung des 150 µm dicken Tabbändchens beim Zusammenbau der Zelle kommt. Dass der Riss im Tabbändchen von einem äußeren Einfluss, etwa eine mechanische Belastung der Zelle, herrührt, ist kaum in Erwägung zu ziehen, da keine äußere Krafteinwirkung in Form einer Deformation sichtbar ist.

Weitere denkbare Anwendungen sind beispielsweise die Darstellung der inneren Strukturen als Teil von Designprüfungen, Zellevaluierungen oder die Detektion möglicher Fremdkörper innerhalb der Zellen.

 

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WENZEL Group GmbH & Co. KG
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97859 Wiesthal
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